BANNATE80A-P2S8200Q2R温度传感器
KRALKF-160.ACA.000009
HEITOM16O 100 +-3
PCH振动监测仪PCH1072/CHF8242
Goraco（sts）WK4/30-65
PCHPCH 1275/CHF5209 ATEX

Messko PSLC242

AEG Mbs25-016 254209

IBIS GmbH IBIS AE100.942.025.G

IBIS GmbH IBIS AE100.942.025.G

FLENDER  ARPEX ARS-6 165-6 COUPLINGS COMPONENT DISC PACK

MIKRO-MESS-GMBH DSR 20-0-D-24-DC-0-64-AB-CE 0-20 mbar，24V-DV，3.3w

LEE LFYA2415010H

SIKA  TLK43HVCRR-SK100

H0B1Z-3-270-378--003

B.Brake CC59

非接触式

它的敏感元件与被测对象互不接触，又称非接触式测温仪表。这种仪表可用来测量运动物体、小目标和热容量小或温度变化迅速（瞬变）对象的表面温度，也可用于测量温度场的温度分布。

常用的非接触式测温仪表基于黑体辐射的基本定律，称为辐射测温仪表。

BANNATE80A-P2S8200Q2R温度传感器辐射测温法包括亮度法（见光学高温计）、辐射法（见辐射高温计）和比色法（见比色温度计）。各类辐射测温方法只能测出对应的光度温度、辐射温度或比色温度。只有对黑体（吸收全部辐射并不反射光的物体）所测温度才是真实温度。

如欲测定物体的真实温度，则必须进行材料表面发射率的修正。而材料表面发射率不仅取决于温度和波长，而且还与表面状态、涂膜和微观组织等有关，因此很难精确测量。

BANNATE80A-P2S8200Q2R温度传感器在自动化生产中往往需要利用辐射测温法来测量或控制某些物体的表面温度，如冶金中的钢带轧制温度、轧辊温度、锻件温度和各种熔融金属在冶炼炉或坩埚中的温度。在这些具体情况下，物体表面发射率的测量是相当困难的。